JENOPTIK業納Waveline W10 測量儀特性介紹
JENOPTIK業納Waveline W10 測量儀特性介紹
JENOPTIK業納Waveline W10 測量儀非常(chang)適合用于進(jin)行移動式粗糙(cao)度(du)(du)測(ce)量，讓您可以(yi)在(zai)生產(chan)過程(cheng)本身中監(jian)測(ce)工件的表面質(zhi)量。這(zhe)款實(shi)用的測(ce)量系(xi)統(tong)具(ju)有廣泛(fan)的功能。它(ta)在(zai)橫向探測(ce)期間以(yi)及架空位(wei)置和垂直位(wei)置中提供(gong)可靠且精(jing)密的測(ce)量。集成(cheng)的粗糙(cao)度(du)(du)標準(zhun)支持(chi)快速測(ce)試測(ce)量儀，確保始終(zhong)獲得非常(chang)高的精(jing)密度(du)(du)。
優勢特性：
W10 具(ju)有集成的(de)(de)熱敏式打(da)印機，這意味著可(ke)以(yi)立即(ji)(ji)記錄測量(liang)結果(guo)。可(ke)以(yi)立即(ji)(ji)打(da)印出公差評估、輪廓(kuo)、Abbott 曲線和(he)統計數(shu)據。該測量(liang)儀(yi)提供了七個不同(tong)的(de)(de)程序(xu)，以(yi)及(ji)用(yong)于測試測量(liang)儀(yi)的(de)(de)選項。所有功能均可(ke)通(tong)過現代且易于使(shi)用(yong)的(de)(de)彩(cai)色觸摸屏進(jin)行(xing)操作。無需進(jin)行(xing)長(chang)時間(jian)的(de)(de)培(pei)訓，因此可(ke)節省您(nin)的(de)(de)時間(jian)和(he)資金(jin)。
此(ci)外，還可以選擇使用 EVOVIS 移動評(ping)估軟(ruan)件(jian)擴展該測量系統。這款基于(yu) PC 的軟(ruan)件(jian)是專門為(wei)移動式(shi)測量儀開發(fa)的，擴展了粗(cu)糙度測量功能(neng)。它以在(zai)線(xian)和離線(xian)模式(shi)運行，支持您(nin)選擇測量條件(jian)。您(nin)還可以自動保存打印(yin)表格。
JENOPTIK業納Waveline W10 測量儀特點：
- 高精(jing)度：精(jing)密(mi)測量所有常(chang)見的(de)粗糙度參數
- 符合標準：滿足標準的(de)要求
- 多(duo)功能：支持進行橫向探測以及(ji)架空位置和(he)垂直位置的測量
- 實用：以無(wu)線的方式(shi)進行測量；LV17 掃描單元集成(cheng)充(chong)電座
- 易用：直觀、現代的觸摸屏
- 清(qing)晰(xi)：具有公差評估和表面輪廓的結果視圖
JENOPTIK業納Waveline W10 測量儀正規供貨商就找“上海維特銳”，17年進口工業備件供銷經驗，所有訂貨均為*正規渠道，確保供貨產品均為**，承諾假一罰十。1年質保。主要以歐美為主，更多品牌需要歡迎隨時來咨詢。
